ATE测试技术对接会成功举办

栏目:中心新闻 来源:网站管理员 时间:2025-04-12 10:43 热度:35

为促进自动测试设备(ATE)技术的创新与应用,加强行业交流与合作,4月11日,厦门科技产业化集团有限公司(以下简称“科技集团”)联合全球半导体测试的领军企业泰瑞达共同举办的ATE测试技术对接会。会议吸引了超30名企业代表和相关从业者参与,共同探讨ATE技术的发展趋势与行业应用实践。

此次对接会特别邀请了泰瑞达(上海)有限公司三位讲师分别围绕先进ATE测试平台和生态系统、MCU高效测试的利器、碳化硅动态测试趋势三个行业关注热点进行了深入探讨和交流。精彩的分享不仅传递了技术成果和行业动态,更为与会者提供了宝贵的思想碰撞。通过现场沟通和深度交流,强化了产业链上下游的协同共识,提升了企业工程师利用测试设备进行研发的效率与精度,同时也为ATE技术的创新发展注入新动能。